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Si基埋置型GaAs芯片封装技术及其热分析
作者姓名:赵 敏
基金项目:中科院联合基金项目(6141A01100101)
摘    要:传统贴置型芯片封装集成度低、散热效果差,为提高GaAs芯片的封装集成度与散热效果,基于MEMS异质集成技术提出一种毫米波硅埋置型三维封装模型结构,借助 COMSOL软件开展热学仿真优化,得到芯片温度与封装基板厚度、底座厚度、涂覆银浆厚度、硅通孔(TSV)距离芯片中心位置及个数的变化规律,获得芯片埋置的热学最优化工艺参数,最终确定的模型集成度高、体积小、散热效果好,封装体积仅为20mm×10mm×1mm,可以实现三维堆叠,芯片工作温度要比传统贴片封装模型降低13.64℃,符合芯片正常工作的温度需求。

关 键 词:封装散热、GaAs芯片、Si基埋置型、TSV通孔、热学仿真
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