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| 可控硅的检测 | |
| 引用本文： | 陈守林.可控硅的检测[J].家用电器,1999(2). |
| 作者姓名： | 陈守林 |
| 摘 要： | 由可控硅的内部结构(如图)可知,在正常情况下,控制极(G)与阴极(K)之间是一个PN结,具有PN结的特性。用万用表欧姆挡的黑表笔接G,红表笔接K,阻值较小(相当于PN结的正向导通电阻),黑、红表笔交换测量,阻值为无穷大(PN结的反向电阻值)。除此之 |
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