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SF—3A型石英晶体膜厚监控仪
引用本文:薛大同,魏向荣,任晓虹,程玉峰.SF—3A型石英晶体膜厚监控仪[J].真空与低温,1987(3).
作者姓名:薛大同  魏向荣  任晓虹  程玉峰
作者单位:兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所
摘    要:以往研制的各种石英晶体膜厚监控仪.都不同程度的保留了模拟电路.不仅限制了频率检测的精度.而且未解决频率变化与质量厚度非线性关系所造成的测厚误差问题.SF-3A 型石英晶体膜厚监控仪的主要设计思想是:提高晶体切角精度.采用孪生晶体技术,大大改善频温特性;选用小的电极面积和开孔.减小频漂:选择考毕兹振荡电路和二极管大讯号混频电路.以提高可靠性;检测电路都作数字化处理.提高检测精度.避开了频率变化与质量厚度非线性关系的问题.研制的 SF-3A 频漂小.运用温度范围宽.具有若干状态监测点和数据保护手段.性能指标达国外同类产品水平.介绍了仪器的电路原理和使用方法.

关 键 词:晶体材料  复层厚度测量  监测仪
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