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| IC测试系统精密定时器的新结构 | |
| 引用本文： | 王东辉,施映,林雨.IC测试系统精密定时器的新结构[J].半导体学报,2002,23(11). |
| 作者姓名： | 王东辉 施映 林雨 |
| 作者单位： | 中国科学院半导体研究所,北京,100083 |
| 摘 要： | 讨论了一种适合于VLSI的精密定时子系统的新结构.该结构将定时计数器分为高速和低速两部分,低速部分采用存储器代替分散的寄存器,既有利于集成,又降低了系统的成本.同时,新的精密定时子系统还解决了定时中不完整周期的问题. |
| 关 键 词： | IC测试 定时器 VLSI |
New Architecture of Accurate Clock Generator in IC Test System |
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