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| 宽度与取向变化的干涉条纹计数技术研究 | |
| 引用本文： | 任明善,朱长纯.宽度与取向变化的干涉条纹计数技术研究[J].量子电子学报,1991(1). |
| 作者姓名： | 任明善 朱长纯 |
| 作者单位： | 西安交通大学 710049 (任明善)，西安交通大学 710049(朱长纯) |
| 摘 要： | 干涉计量以它的高精度在生产实践中越来越被人们所重视。而所遇到的问题之一是干涉条纹(或莫尔条纹)的宽度和取向不一致,即有随机变化。例如平板玻璃厚度检测的干涉条纹就是如此。这使传统的电子学频率 |
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