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高纯外延GaAs中浅施主杂质的光热电离谱研究
作者姓名:钱家骏  陈涌海  孙明方  王占国  林兰英
作者单位:中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室
摘    要:利用光热电离谱技术研究了4.5K下高纯n-GaAs外延材料的远红外光电导响应借.给出CPE法和VPE法生长的高纯GaAs材料残留浅施主杂质分别是S、Sn和Sn、P等杂质.实验结果表明本所高纯GaAs组采用的LPE生长技术能有效抑制杂质St和Sn的沾污.

关 键 词:砷化镓 光热电离谱 外延材料
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