| IDDQ测试原理及案例 |
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| 引用本文： | 鲍信茹,汪志伟,李文石. IDDQ测试原理及案例[J]. 中国集成电路, 2006, 15(9): 74-75,30 |
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| 作者姓名： | 鲍信茹 汪志伟 李文石 |
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| 作者单位： | 苏州大学电子信息学院微电子学系 |
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| 摘 要： | 概论IDDQ测试的演进规律,详解一个芯片IDDQ实测案例,包括测试平台、软件框图和数据分析。
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| 关 键 词： | I_(DDQ) 原理 案例 |
IDDQ Test Theory and Case |
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| BaoXinru,WangZhiwei,Li Wenshi. IDDQ Test Theory and Case[J]. China Integrated Circuit, 2006, 15(9): 74-75,30 |
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| Authors: | BaoXinru WangZhiwei Li Wenshi |
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| Affiliation: | Suzhou University Suzhou 215021 |
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| Abstract: | Review the rule of IDDQ test and discuss one case of it included test platform, software blocks and data ananlysis. |
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| Keywords: | IDDQ key theory case analysis |
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