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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
荧光X射线参考辐射的优化
作者姓名:
丁亚东
魏可新
宋明哲
刘巧凤
作者单位:
中国科学院高能物理研究所;中国原子能科学研究院;
摘 要:
在荧光X射线参考辐射场中,射线的强度和纯度会受到机械装置本身、辐射体厚度、次级过滤厚度、X光机管电压的影响。在优化设计参考辐射装置结构的基础上,通过理论分析计算和蒙特卡罗模拟,得到荧光强度和纯度随辐射体和次级过滤厚度的变化,并对X光机管电压对荧光强度和纯度的影响进行了测量。结果显示:F-Cs这一辐射质,当辐射体Cs2SO4的厚度大于490μm时,荧光强度达到饱和;当次级过滤Te O2的厚度约为327μm时,荧光纯度最高;荧光强度随X光机管电压的升高而增加,纯度随管电压的升高而降低。
关 键 词:
荧光X射线
参考辐射
辐射体
次级过滤
管电压
MCNP
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