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| 光纤探针镀膜的扫描电镜检测 | |
| 引用本文： | 周庆,戴宏,陈尔纲,木崇俊.光纤探针镀膜的扫描电镜检测[J].电子显微学报,1998,17(5):678-679. |
| 作者姓名： | 周庆 戴宏 陈尔纲 木崇俊 |
| 作者单位： | 云南大学物理系,昆明,650091 |
| 摘 要： | 扫描近场光学显微镜（ＳＮＯＭ）是一种新型高分辨率光学显微镜。它突破了传统的光学显微镜所受到的衍射极限，可在超高光学分辨率下进行纳米尺度的光学成像。已报道的近场光学显微镜的分辨率已达１０ｎｍ。因此，近场光学显微镜将在物理、化学、生物学及材料科学等领域有... |
| 关 键 词： | 光纤探针 镀膜 扫描式 近场光学显微镜 电镜检测 |
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