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蓝宝石衬底上AlGaN/GaN HEMT自热效应研究
引用本文:杨燕,郝跃.蓝宝石衬底上AlGaN/GaN HEMT自热效应研究[J].固体电子学研究与进展,2005,25(3).
作者姓名:杨燕  郝跃
作者单位:西安电子科技大学
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划),国家预研基金
摘    要:建立了包含“自热效应”的A lG aN/G aN HEM T(高电子迁移率晶体管)直流I-V特性解析模型。从理论的角度分析了自热效应对A lG aN/G aN HEM T器件的影响,并同已有的实验结果进行了对比,符合较好。证明基于这种模型的理论分析适于A lG aN/G aN HEM T器件测试及应用的实际情况。

关 键 词:氮镓铝/氮化镓  高电子迁移率晶体管  自热效应

Study of Self-heating on AlGaN/GaN HEMTs Grown on Sapphire Substrate
YANG Yan,HAO Yue.Study of Self-heating on AlGaN/GaN HEMTs Grown on Sapphire Substrate[J].Research & Progress of Solid State Electronics,2005,25(3).
Authors:YANG Yan  HAO Yue
Abstract:An physical-based analytical model for the dc I-V characteristics of AlGaN/GaN high electron mobility transistors(HEMTs) is presented.The impact of self-heating effect on AlGaN/GaN HEMTs grown on sapphire substrate is analyzed in detail.The comparison between simulations and physical measurements shows a good agreement,therefore the theory analysis based on the model is suitable for the real actions of AlGaN/GaN HEMTs.
Keywords:AlGaN/GaN  high electron mobility transistor  self-heating
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