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复合绝缘子内部缺陷的超声相控阵检测的仿真研究
引用本文:徐天勇,雷成华,董晓虎,李荣超,刘国强,夏正武.复合绝缘子内部缺陷的超声相控阵检测的仿真研究[J].江苏电器,2017(7).
作者姓名:徐天勇  雷成华  董晓虎  李荣超  刘国强  夏正武
作者单位:1. 国网湖北省电力公司检修公司,湖北 武汉,430050;2. 国网湖北省电力公司,湖北 武汉,430077;3. 中国科学院电工研究所,北京,100190
摘    要:利用超声相控阵对高压输电线路中复合绝缘子内部缺陷的带电检测,分辨率高、检测速度快,为了了解相控阵超声检测复合绝缘子内部缺陷的性能,优化相控阵超声探头参数和扫查方法,利用Field-Ⅱ进行仿真,研究了对相控阵超声探头声场分布,以及复合绝缘子超声相控阵检测中单焦点扫描、动态聚焦扫描、幅度变迹技术对成像质量的影响,根据仿真结果,选取了合适的相控阵探头参数及扫描方式,为超声相控阵仪器的设计提供了依据。

关 键 词:复合绝缘子  带电检测  超声相控阵  Field-Ⅱ  超声仿真

Simulation Study on Ultrasonic Phased Array Detection for Internal Defect of Composite Insulators
Authors:XU Tian-yong  LEI Cheng-hua  DONG Xiao-hu  LI Rong-chao  LIU Guo-qiang  XIA Zheng-wu
Abstract:
Keywords:
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