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一种Tanner图短环计数新方法
引用本文:焦晓鹏,慕建君,周利华.一种Tanner图短环计数新方法[J].西安电子科技大学学报,2010,37(2):311-314.
作者姓名:焦晓鹏  慕建君  周利华
作者单位:焦晓鹏,慕建君(西安电子科技大学,计算机学院,陕西,西安,710071;西安电子科技大学,综合业务网理论及关键技术国家重点实验室,陕西,西安,710071);周利华(西安电子科技大学,计算机学院,陕西,西安,710071) 
基金项目:综合业务网理论及关键技术国家重点实验室开放基金,国家自然科学基金 
摘    要:短环是影响低密度校验码迭代译码性能的重要因素.利用树结构展开的思想,通过分析无效短环和重复短环对计数结果的影响,得出了低密度校验码的一个短环计数公式.利用这一公式,提出了一种基于树结构展开的Tanner图短环计数算法,可对任意给定长度的短环进行计数,从而克服了现有短环计数算法仅能对特定长度短环计数的缺点.对一些典型低密度校验码的短环数量统计结果表明这种算法的正确性.

关 键 词:低密度校验码  Tanner图  短环  树结构展开
收稿时间:2008-12-19

Novel method for counting short cycles of Tanner graphs
JIAO Xiao-peng,MU Jian-jun,ZHOU Li-hua.Novel method for counting short cycles of Tanner graphs[J].Journal of Xidian University,2010,37(2):311-314.
Authors:JIAO Xiao-peng    MU Jian-jun  ZHOU Li-hua
Affiliation:(1. School of Computer Science and Technology, Xidian Univ., Xi'an  710071, China; 2. State Key Lab. of Integrated Service Networks, Xidian Univ., Xi'an  710071, China)
Abstract:Short cycles have an important influence on iterative decoding for low-density parity-check(LDPC) codes.By using tree expanding of Tanner graphs and the analysis of the influence of invalid cycles and duplicate cycles,a formula for counting short cycles of LDPC codes is derived.With the derived formula,an algorithm for counting short cycles of Tanner graphs based on tree expanding is proposed.The proposed algorithm can count short cycles with arbitrary lengths,and thus overcomes the disadvantage of existing...
Keywords:low-density parity-check(LDPC)codes  Tanner graph  short cycles  tree expanding
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