首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

晶圆湿法蚀刻清洗工艺及流量控制发展
作者姓名:谷康康  陶晓杰
作者单位:1. 合肥工业大学仪器科学与光电工程学院;2. 长鑫存储技术有限公司
摘    要:对比两种集成电路制造湿法工艺设备的优缺点及未来发展趋势,对影响单片湿法清洗工艺中蚀刻率因素进行分析总结,介绍化学药液混合和制程喷吐中流量控制技术的发展,设计实验将两种化学药液流量控制阀件的蚀刻清洗效果对比,并对未来技术发展进行简要分析。

关 键 词:集成电路  湿法蚀刻清洗  蚀刻率  化学药液  流量控制
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号