高速多芯片组件同步开关噪声的二维特征法全波分析

高速多芯片组件（ＭＣＭ）广泛用于高复杂的系统中，而其中的同步开关噪声（ＳｉｍｕｌｔａｎｅｏｕｓＳｗｉｔｃｈｉｎｇＮｏｉｓｅ）是影响系统功能的重要因素，本文采用二维电磁模型模拟ＭＣＭ电源，接地板同步开关噪声，文中提出了一种新的时域电磁问题的数值方法－特征法，并用于求解上述问题，所得结果与ＦＤ－ＴＤ计算的结果和文献报道一致。