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| 光学测试固体微粒直径的新方法 | |
| 引用本文： | 方勇,朱昌.光学测试固体微粒直径的新方法[J].西安工业学院学报,2004,24(4):364-366. |
| 作者姓名： | 方勇 朱昌 |
| 作者单位： | 西安工业学院光电工程学院，西安工业学院光电工程学院 西安710032，西安710032 |
| 摘 要： | 为满足实时性和精度的要求，对固体微粒直径进行快速、准确测量．文中测试方法利用光学中Mie散射原理和Fraunhder衍射原理设计了光学测试系统．根据散射光强分布与固体微粒直径的关系，用数学迭代法结合计算机技术对数据进行处理，快速获得固体微粒直径大小．其测量精度可心达到10μm以下．从实验结果表明，实测值与标准值基本符合．与传统测量方法相比较，提高了测量精度，缩短了测量时间，操作更加简例． |
| 关 键 词： | 光学测试 Mie散射原理 Fraunhofer衍射原理 微粒直径 数据处理 |
| 文章编号： | 1000-5714(2004)04-0364-03 |
| 修稿时间： | 2004年4月20日 |
A new method to measure the particles diameter |
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| FANG Yong,ZHU Chang.A new method to measure the particles diameter[J].Journal of Xi'an Institute of Technology,2004,24(4):364-366. | |
| Authors: | FANG Yong ZHU Chang |
| Abstract: | |
| Keywords: | optical measurement mie scattering theory fraunhofer diffraction theory particle diameter data Process |
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