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气敏元件性能综合测试技术探讨
引用本文:张晓东.气敏元件性能综合测试技术探讨[J].电测与仪表,1996,33(11):35-36.
作者姓名:张晓东
作者单位:哈尔滨科学技术咨询公司
摘    要:本文对气敏元件性能综合测试中的电路,试验箱体材料,元件温度梯度和环境温度等对测试影响进行了大量的试验与分析,给出了科学合理的设计数据。

关 键 词:气敏元件  灵敏度  稳定性  温度梯度
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