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一种ATE测试向量时序优化算法
引用本文:陈辉,姚若河,王晓晗,恩云飞,魏建中.一种ATE测试向量时序优化算法[J].微电子学,2011,41(2):310-314.
作者姓名:陈辉  姚若河  王晓晗  恩云飞  魏建中
作者单位:1. 工业和信息化部,电子第五研究所,广州,510610;华南理工大学,广州,510641
2. 华南理工大学,广州,510641
3. 工业和信息化部,电子第五研究所,广州,510610
摘    要:介绍了自动测试设备(ATE)测试信号合成的基本原理,讲述了ATE测试时序的结构和特点,分析了VCD(Value Change Dump)文件的语法结构和特点,提出了一种ATE测试时序优化算法,包括VCD时间沿的修剪和分辨率降低原则.经过时序优化算法处理的VCD文件,在进行测试向量转换时,生成的测试时序中,定时沿的数量得...

关 键 词:自动测试设备  集成电路测试  VCD文件  测试时序  测试向量

An Algorithm for Optimizing Timing of Test Vector in ATE
CHEN Hui,YAO Ruohe,WANG Xiaohan,EN Yunfei,WEI Jianzhong.An Algorithm for Optimizing Timing of Test Vector in ATE[J].Microelectronics,2011,41(2):310-314.
Authors:CHEN Hui  YAO Ruohe  WANG Xiaohan  EN Yunfei  WEI Jianzhong
Abstract:
Keywords:
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