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| 一种ATE测试向量时序优化算法 | |
| 引用本文： | 陈辉,姚若河,王晓晗,恩云飞,魏建中.一种ATE测试向量时序优化算法[J].微电子学,2011,41(2):310-314. |
| 作者姓名： | 陈辉 姚若河 王晓晗 恩云飞 魏建中 |
| 作者单位： | 1. 工业和信息化部,电子第五研究所,广州,510610;华南理工大学,广州,510641 2. 华南理工大学,广州,510641 3. 工业和信息化部,电子第五研究所,广州,510610 |
| 摘 要： | 介绍了自动测试设备(ATE)测试信号合成的基本原理,讲述了ATE测试时序的结构和特点,分析了VCD(Value Change Dump)文件的语法结构和特点,提出了一种ATE测试时序优化算法,包括VCD时间沿的修剪和分辨率降低原则.经过时序优化算法处理的VCD文件,在进行测试向量转换时,生成的测试时序中,定时沿的数量得... |
| 关 键 词： | 自动测试设备 集成电路测试 VCD文件 测试时序 测试向量 |
An Algorithm for Optimizing Timing of Test Vector in ATE |
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| CHEN Hui,YAO Ruohe,WANG Xiaohan,EN Yunfei,WEI Jianzhong.An Algorithm for Optimizing Timing of Test Vector in ATE[J].Microelectronics,2011,41(2):310-314. | |
| Authors: | CHEN Hui YAO Ruohe WANG Xiaohan EN Yunfei WEI Jianzhong |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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