利用火花源质谱增值法定量分析氧化钨

本文介绍了质谱增值法的基本原理及其在氧化钨定量分析中的应用。此方法不需要标准样品,能提高分析准确度和灵敏度。作者还改进了制备粉末样品电极的方法,它可避免压样时的外界沾污,而且不需要加入辅助导电粉。