| 基于遗传算法的芯片检测系统位置配准 |
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| 引用本文： | 石炜,郗安民,董占民. 基于遗传算法的芯片检测系统位置配准[J]. 微计算机信息, 2008, 24(34) |
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| 作者姓名： | 石炜 郗安民 董占民 |
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| 基金项目： | "863计划"项目;， 项目名称:半导体照明产业化芯片测试与分拣的关键技术及设备研制 |
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| 摘 要： | 针对发光二极管芯片检测系统位置配准的特殊性,建立了与之适应的位置配准模型.提出分步计算的方法,进行遗传算法优化,简化常规方法中的非线性求解问题.结果显示,该模型及其解法满足了发光二极管芯片位置配准要求,计算过程较为简便,易于数值求解.所提出的先进行常规求解,由常规解推演出搜索范围,而后进行遗传迭代搜索的方法结构简单、能实时在线检测、非接触及高精度等特点,对于其他图像模型的参数求解也具有很大的意义.
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| 关 键 词： | 发光二极管 优化 非线性 遗传算法 |
Situation Registration Based on Genetic Algorithm in LED Chip Testing System |
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| SHI Wei,XI An-min,DONG Zhan-min. Situation Registration Based on Genetic Algorithm in LED Chip Testing System[J]. Control & Automation, 2008, 24(34) |
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| Authors: | SHI Wei XI An-min DONG Zhan-min |
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