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| 评估示波器：要深挖细找次要技术指标 | |
| 引用本文： | Colin Shepard. 评估示波器：要深挖细找次要技术指标[J]. 电子设计技术, 2004, 11(11): 76-80 |
| 作者姓名： | Colin Shepard |
| 作者单位： | Tektronix公司 |
| 摘 要： | 领会主要技术指标--带宽、采样率及记录长度--的言外之意,深入分析那些影响你设计效率甚至有效性的细微差别和不大引人注意的特性. |
| 关 键 词： | 记录长度 采样率 带宽 技术指标 示波器 主要技术 |
Evaluating oscilloscopes:Dig deeper |
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| Colin Shepard. Evaluating oscilloscopes:Dig deeper[J]. EDN China, 2004, 11(11): 76-80 | |
| Authors: | Colin Shepard |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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