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| 同位素稀释质谱法特点 | |
| 引用本文： | 赵墨田.同位素稀释质谱法特点[J].质谱学报,2004,25(Z1):167-168. |
| 作者姓名： | 赵墨田 |
| 作者单位： | 国家标准物质研究中心,北京,100013 |
| 摘 要： | 1997年国际物质量咨询委员会(CCQM)在巴黎召开的第六次会议,将同位素稀释质谱法、精密库仑、电位滴定、凝固点下降法和重量法定位于具有绝对测量性质的方法.其中同位素稀释质谱法是唯一一种微量、痕量和超痕量元素权威测量的方法.因为IDMS可以通过天平称重和同位素丰度比的质谱测量,将化学成分分析转化为同位素丰度的质谱测量. |
| 文章编号： | 1004-2997(2004)增刊-167-02 |
| 修稿时间： | 2004年10月5日 |
The Characteristics of Isotope Dilution Mass Spectrometry |
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