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| 可靠性评估中指数型数据向成败型数据的折合 | |
| 作者姓名： | 朱三可 李祥臣 齐俊臣 彭道勇 |
| 作者单位： | 北京清河大楼子八,100085 |
| 摘 要： | 本文讨论了在复杂产品可靠性评估过程中经常遇到的可靠性串、并联模型下指数型试验数据折合为成败型等效数据的方法,包括了同级别折合和低级别向高级别的折合,并给出了这些方法的推导过程. |
| 关 键 词： | 可靠性评估 数据折合 指数分布 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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