首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

低压大容量试验和测试技术水平综述(Ⅰ)
作者姓名:丁正平
作者单位:机械部第七设计研究院 710054
摘    要:就国内外低压电器试验室(站)及其测试技术的水平和发展趋势进行了系统的分析和综述,并提出了当前国内存在的差距.对编制行业发展规划和试验站(室)的建设、设计提供了有价值的资料.

关 键 词:低压电器  试验  测试技术  综述
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号