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微处理器控制的MOS存储器检查系统
作者姓名:新成  李国英  李维汉  陆庆元
摘    要:本文介绍了一台采用微处理器控制的MOS存储器联机检查系统。该系统能产生MOS存储器所需要的检查图形,并满足存储器的速度要求。此外,还具有图形变换灵活性大、节省器材、设计工作量小等优点。该系统已用于200万字的主存系统中。

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