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MoO_3含量对VO_2薄膜电阻率变化的影响
引用本文:马兰,杨绍利,高仕忠. MoO_3含量对VO_2薄膜电阻率变化的影响[J]. 功能材料, 2010, 41(Z2)
作者姓名:马兰  杨绍利  高仕忠
作者单位:攀枝花学院,生物与化学工程学院,四川,攀枝花,617000;四川省钒钛材料工程研究中心,四川,攀枝花,617000
摘    要:研究了掺入MoO3时VO2薄膜电阻率的变化;建立了VO2薄膜电阻率突变数量级S随杂质含量变化的数学模型,进行了理论计算及与实测值的对比。结果表明,S随MoO3掺入量的增大而减小,采用该数学模型可以很好地预测S值的大小。

关 键 词:薄膜  电阻率变化  杂质

Influence of MoO3 content for change of resistivity in VO2 thin films
MA Lan,YANG Shao-li,GAO Shi-zhong. Influence of MoO3 content for change of resistivity in VO2 thin films[J]. Journal of Functional Materials, 2010, 41(Z2)
Authors:MA Lan  YANG Shao-li  GAO Shi-zhong
Abstract:
Keywords:VO2
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