|
|||||
|
|
| GE无损检测技术典型应用案例交流会在上海顺利召开 | |
| 摘 要： | 日前,"2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会"在上海GE中国科技园顺利召开。此次会议的目的是为了深入反映我国无损检测界所面临的全新挑战,展示业界的智慧成果,通过实际检测应用案例的分享和介绍,提升我国 |
| 关 键 词： | 应用案例 无损检测技术 科技园 新挑战 检测领域 典型 控制技术 相控阵 上海 会议 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
|
||||||||||
|
||||||||||
|
||||||||||
|
|
|
|
| 设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏 |
|
Copyright©北京勤云科技发展有限公司 京ICP备09084417号 |