先进的测试设备能促进我国IC设计发展吗? |
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引用本文: | 王丽英.先进的测试设备能促进我国IC设计发展吗?[J].今日电子,2007(8):23-23. |
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作者姓名: | 王丽英 |
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摘 要: | 近日,中国电子技术标准化研究所(CESI)与半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)在北京联合宣布“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立,该实验室引进了国内配置较高的93000 SoC测试机台,旨在满足北京乃至国内高端芯片测试方面日益增长的需求。实验室将提供独立的公共测试服务,与代工厂提供的量产测试不同的是,CESI—Verigy实验室的测试更多偏重于标准的验证,对高端芯片性能的分析。
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关 键 词: | 测试设备 |
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