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| ESD EMP对单片机的辐照效应实验及加固方法研究 | |
| 引用本文： | 侯民胜,王书平.ESD EMP对单片机的辐照效应实验及加固方法研究[J].电子工程师,2002,28(1):47-49. |
| 作者姓名： | 侯民胜 王书平 |
| 作者单位： | 军械工程学院静电与电磁防护研究所,石家庄,050003 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
| 摘 要： | 为研究静电放电电磁脉冲对电子系统的影响，进行了静电放电电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验。实验表明，单片机系统在ESD EMP作用下，会出现“死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象。在实验基础上，研究了对ESD EMP的加固方法。 |
| 关 键 词： | 静电放电 电磁脉冲 单片机系统 加固 辐照效应 |
| 修稿时间： | 2001年8月30日 |
Study on the Deffence Method and Experiment of Irradiation Effect of ESD EMP on Chip Microcomputer |
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