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新型扫描式高温仪的设计分析
引用本文:陈克明. 新型扫描式高温仪的设计分析[J]. 半导体光电, 1989, 10(2): 60-63,78
作者姓名:陈克明
作者单位:重庆光电技术研究所
摘    要:本文对一种可制作的新型高温计——扫描式光测高温计的设计原理进行了分析,特别是对使用 CCPD 作为测温元件的主要技术问题作了充分地论述。

关 键 词:高温计 CCPD 扫描式 设计

Design and Analysis of New Scan Mode Pyrometer
Chen Keming Chongqing Optoelectronics Research Institute. Design and Analysis of New Scan Mode Pyrometer[J]. Semiconductor Optoelectronics, 1989, 10(2): 60-63,78
Authors:Chen Keming Chongqing Optoelectronics Research Institute
Affiliation:Chen Keming Chongqing Optoelectronics Research Institute
Abstract:
Keywords:Pyrometer  CCPD's
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