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重复单元结构对聚酰亚胺薄膜力学和介电性能的影响
引用本文:李鸿韬,于淑会,孙蓉.重复单元结构对聚酰亚胺薄膜力学和介电性能的影响[J].绝缘材料,2020,53(7):23-28.
作者姓名:李鸿韬  于淑会  孙蓉
作者单位:中国科学院深圳先进技术研究院,深圳先进电子材料国际创新研究院,广东 深圳 518055;中国科学院大学,北京 100864;中国科学院深圳先进技术研究院,深圳先进电子材料国际创新研究院,广东 深圳 518055
摘    要:以两种不同二胺、二酐单体为原料,通过两步法制备了4种聚酰亚胺薄膜,研究了不同重复单元结构对聚酰亚胺薄膜性能的影响。结果表明:相比含二苯酮基的聚酰亚胺薄膜,含三氟甲基的聚酰亚胺薄膜具有更低的介电常数,同时保持较高的拉伸强度。其中由4,4′-二氨基-2,2′-双三氟甲基联苯(TFMB)与4,4′-联苯醚二酐(ODPA)聚合得到的聚酰亚胺薄膜介电常数最低,热分解温度高于550℃,拉伸强度为81.9 MPa,综合性能良好。

关 键 词:聚酰亚胺  结构  介电常数  拉伸强度
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