| 确保更精确的高电阻测量 |
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| 引用本文： | Dale Cigoy. 确保更精确的高电阻测量[J]. 国外电子测量技术, 2010, 29(8): 6-7 |
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| 作者姓名： | Dale Cigoy |
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| 作者单位： | 吉时利仪器公司 |
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| 摘 要： | 0引言高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分,包括印制电路板的表面电阻（SIR）测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等。确保高电阻测量（即高于1G【109欧姆】的电阻）的精度需要使用大量的特殊技术和仪器,例如静电计、源测量单元（SMU）、或皮可安培计／电压源组合。静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻。
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| 关 键 词： | 电阻测量 测试应用 印制电路板 电阻率测量 组成部分 表面电阻 绝缘材料 电压系数 |
How to guarantee high resistance measurement |
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| Dale Cigoy. How to guarantee high resistance measurement[J]. Foreign Electronic Measurement Technology, 2010, 29(8): 6-7 |
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| Authors: | Dale Cigoy |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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