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EBIC图象的直接观察与分析
作者姓名:刘永宽
作者单位:电子工业部第二十四研究所
摘    要:本文通过实验,直接利用扫描电镜已有的吸收电流放大器获得EBIC讯号,对集成电路的P—N结完整性及P—N隔离区质量进行了观察,并对实验原理进行了浅显的分析。

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