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| 集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制 | |
| 引用本文： | 李秀华.集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制[J].电子工业专用设备,1996,25(2):36-37. |
| 作者姓名： | 李秀华 |
| 作者单位： | 西安微电子技术研究所 |
| 摘 要： | 集成电路外壳对可靠性的影响及质量控制李秀华（西安微电子技术研究所７１００５４）１前言集成电路的可靠性主要取决于芯片的质量与封装技术的高低，而外壳的质量又是影响封装技术的关键。做为集成电路专业制造厂，使用白陶瓷、黑陶瓷、金属圆外壳、菱型外壳等几十个规格... |
| 关 键 词： | 集成电路 外壳 可靠性 质量控制 |
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