荧光粉涂层厚度的微机控制 |
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引用本文: | 陈曾济,徐电.荧光粉涂层厚度的微机控制[J].中国照明电器,1997(4):24-25. |
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作者姓名: | 陈曾济 徐电 |
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作者单位: | 浙江大学信电系 |
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摘 要: | 本文简要介绍了荧光粉涂复智能测控仪,该仪器采用光透射的方法来测得荧光粉的相对厚度,并利用单片机进行数据处理和对工艺过程进行实时的监控,在生产线上可以及时调整粉浆配制,使荧光粉层保持稳定均匀的厚度,为荧光粉的涂复工艺提供方便实用的监控手段。
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关 键 词: | 荧光粉 涂层质量 智能测控 |
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