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荧光粉涂层厚度的微机控制
引用本文:陈曾济,徐电.荧光粉涂层厚度的微机控制[J].中国照明电器,1997(4):24-25.
作者姓名:陈曾济  徐电
作者单位:浙江大学信电系
摘    要:本文简要介绍了荧光粉涂复智能测控仪,该仪器采用光透射的方法来测得荧光粉的相对厚度,并利用单片机进行数据处理和对工艺过程进行实时的监控,在生产线上可以及时调整粉浆配制,使荧光粉层保持稳定均匀的厚度,为荧光粉的涂复工艺提供方便实用的监控手段。

关 键 词:荧光粉  涂层质量  智能测控
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