| XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用 |
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| 引用本文： | 杨成韬,张鹰,李言荣. XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用[J]. 电子科技大学学报(自然科学版), 2001, 30(2): 129-133 |
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| 作者姓名： | 杨成韬 张鹰 李言荣 |
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| 作者单位： | 1.电子科技大学光电记录技术中心 成都 610054 |
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| 摘 要： | 通过对单层结构和多层结构的磁光记录介质TbFeCo在常温环境气氛条件和高温加速应力条件下的可靠性对比实验,以及对组成元素的XPS光电子能谱分析,证明了只有经过多层结构保护处理的磁光记录介质才具有高的稳定性。
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| 关 键 词： | 磁光介质 多层膜 可靠性 XPS能谱 |
| 收稿时间： | 2000-07-19 |
Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability |
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| YANG Chengtao,Zhang Ying,LI Yanrong. Application of XPS Spectra in Analysis of MO Medium Reliability[J]. Journal of University of Electronic Science and Technology of China, 2001, 30(2): 129-133 |
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| Authors: | YANG Chengtao Zhang Ying LI Yanrong |
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| Affiliation: | 1.Center of Opto-electronic Recording Technology,UEST of China Chengdu 610054 |
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| Abstract: | By contrastive experimental analyzing of the single layer film and multilayer film of magneto-optical recording medium TbFeCo in room and high temperature condition, it is proved that the magneto-optical medium has high stability by adopting multilayer film structure. the XPS analysis of element of TbFeCo also proves the conclusion. |
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| Keywords: | magneto-optical media multilayer film reliability XPS spectra |
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