摘 要: | 本文讨论用4πβ-γ符合方法测量厚金箔绝对活性的数据处理方法以及有关问题。选取两组金箔。一组厚约2毫克/厘米~2,另一组厚约12毫克/厘米~2。箔直径为10.3毫米。在反应堆“热柱”孔道内照射,获得箔内均匀的活性分布。用气流式4πβ—γ符合装置测量各片金箔的活性。再把箔迭起来,组成不同厚度的迭箔,用同样方法测量。用两种效率外推法处理。结果列表。同时把迭箔的测值与单箔测值的算术累计和也列表,以作比较。结果表明:当箔厚<40毫克/厘米~2时,效率外推法结果可靠(差≤1%);在40~130毫克/厘米~2时,差约2~3%。文中还由β道计数求得金箔的β自吸收因子。对箔厚<60毫克/厘米~2,用F=1-2E_3(μt)/2μt,μ=0.01厘米~2/毫克;对箔厚>60毫克/厘米~2,用F=(1—e~(-μt))/μt,μ=0.025厘米~2/毫克表示。在所测金箔厚2~130毫克/厘米~2范围内,β自吸收因子的经验公式为: F_1=0.904883 0.0523733 Int-0.0367848In~2t.
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