| 高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用 |
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| 引用本文： | 余丽霞,虞鹤松,刘昱欣. 高性能单片机C8051F020及其在露点测试系统中的应用[J]. 世界电子元器件, 2003, 0(4): 54-55 |
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| 作者姓名： | 余丽霞 虞鹤松 刘昱欣 |
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| 作者单位： | 西安交通大学 |
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| 摘 要： | 应用背景目前在食品加工、饲料、家用电器等行业中广泛的应用的露点测试系统要求具有高精度、高可靠性及高稳定性等特点。而且整个测试过程中需要动态连续或者间歇性动态连续进行。测试系统的控制核心部分一般采用单片机系统,其硬件电路示意图如图1所示,这种单片机系统虽然基本能满足生产需要,但是,由于系统扩展芯片多,线路复杂,也都不同程度地暴露出资源再扩受限、易出故障、编程麻烦、升级维护困难等缺点,而且可靠性和
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| 关 键 词： | C8051F020单片机 露点测试 工作原理 存储器 I／O口 CPU 数模转换 |
High Speed and Performance MCU C8051F020 and Its Application In Dew Point Test System |
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