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金属诱导法低温多晶硅薄膜的制备与研究
引用本文:刘传珍,杨柏梁,张玉,李牧菊,吴渊,廖燕平,王大海,邱法斌,李轶华,黄锡珉. 金属诱导法低温多晶硅薄膜的制备与研究[J]. 液晶与显示, 2000, 15(4): 250-254
作者姓名:刘传珍  杨柏梁  张玉  李牧菊  吴渊  廖燕平  王大海  邱法斌  李轶华  黄锡珉
作者单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;北方液晶工程研究开发中心,吉林长春 130021
基金项目:中国科学院“九五”重大资助项目(KY951-A1-502);吉林省“九五”科技攻关项目(970103-01);吉林省杰出青年基金
摘    要:利用金属诱导晶化(Metal Induced Crystallization,MIC)的方法研究了a-Si/Ni的低温晶化,MIC的晶化温度降低到440℃。采用XRD、Raman、SEM和XPS等手段研究了Ni-MIC多晶硅薄膜的特性,分析了薄膜结构和组成,讨论了晶化过程的机理。

关 键 词:晶化 多晶硅薄膜 退火 金属诱导法
文章编号:1007-2780(2000)04-0250-05
修稿时间:2000-08-27

Preparation and Characterization of p-Si Films by Metal Induced Crystallization at Low Temperature
LIU Chuan zhen,YANG Bai liang,ZHANG Yu,LI Mu Ju,Wu Yuan,LIAO Yan ping,WANG Da hai,QIU Fa bin,LI Yi hua,HUANG Xi min. Preparation and Characterization of p-Si Films by Metal Induced Crystallization at Low Temperature[J]. Chinese Journal of Liquid Crystals and Displays, 2000, 15(4): 250-254
Authors:LIU Chuan zhen  YANG Bai liang  ZHANG Yu  LI Mu Ju  Wu Yuan  LIAO Yan ping  WANG Da hai  QIU Fa bin  LI Yi hua  HUANG Xi min
Abstract:
Keywords:metal induced crystallization  p Si thin film  annealing
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