一种成像聚合物的新方法

美国标准与测试技术研究院的科学家和某大学的研究人员共同合作最近将一种新的成像技术应用于聚合复合物微细结构及其缺陷的无损测定。此项名为光学相干层析Ｘ射线摄影法（ＯＣＴ）的新方法是以物体扩散出的短光脉冲干涉测量分析为基础。在此之前，研究人员已在大学里研制...