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声表面波ZnO薄膜紫外探测器的响应机制研究
引用本文:彭文博,贺永宁,赵小龙,刘晗,康雪,文常保. 声表面波ZnO薄膜紫外探测器的响应机制研究[J]. 压电与声光, 2014, 36(1): 12-15
作者姓名:彭文博  贺永宁  赵小龙  刘晗  康雪  文常保
作者单位:1.西安交通大学 电子与信息工程学院,陕西 西安 710049;;2.长安大学 电子与控制工程学院,陕西 西安 710064
基金项目:国家自然科学基金资助项目(No.60876038)
摘    要:通过射频磁控溅射法在以128°Y-X LiNbO3为压电衬底的声表面波(SAW)小波器件上沉积了一层ZnO薄膜作为紫外光敏感膜,利用网络分析仪对所制备探测器的紫外光响应特性进行了测试。实验结果表明,在波长365nm、光强210μW/cm2的紫外光照射下,探测器的频移量最大可达到37kHz,且具有良好的可重复性。探测器的紫外光响应过程和暗场恢复过程均包含了一个快过程和一个慢过程,前者决定于ZnO薄膜表面氧气分子的吸附与解吸附过程,而后者则决定于外界氧气分子与ZnO内部本征缺陷间的慢交换过程。最后,结合声电效应和半导体光电导效应分析给出了探测器紫外光响应过程和暗场恢复过程的理论公式。该文对基于ZnO薄膜的高灵敏度SAW紫外探测器响应机制的揭示,为其瞬态特性的改善和实用化提供了思路。

关 键 词:声表面波  ZnO薄膜  氧气吸附与解吸附  本征缺陷

Investigation of Response Mechanism for ZnO Thin Film Based Surface Acoustic Wave Ultraviolet Detector
Abstract:
Keywords:surface acoustic wave  ZnO thin film  oxygen adsorption and desorption  native defect
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