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LK存储介质Nand Flash驱动模块设计与性能优化
引用本文:周继才. LK存储介质Nand Flash驱动模块设计与性能优化[J]. 单片机与嵌入式系统应用, 2013, 13(5): 27-30
作者姓名:周继才
作者单位:重庆邮电大学,重庆,400065
摘    要:在嵌入式系统中,一般采用RAM+Flash的存储模式。在基于C6310Android智能手机实现LK系统基本引导加载功能的基础上,对Nand Flash基本功能的实现提出了一套完整的设计方案。该方案对Nand Flash进行了重新布局,实现了Nand Flash升级模块的功能,并且针对Nand Flash读写速度,提出了一种坏块管理策略和硬件并行ECC校验的设计方案。

关 键 词:存储模式  读写速度  坏块管理  ECC校验

Design and Performance Optimization Module of LK Storage Medium Nand Flash Driver
Zhou Jicai. Design and Performance Optimization Module of LK Storage Medium Nand Flash Driver[J]. Microcontrollers & Embedded Systems, 2013, 13(5): 27-30
Authors:Zhou Jicai
Affiliation:Zhou Jicai(Chongqing University of Posts and Telecommunications,Chongqing 400065,China)
Abstract:In embedded system we generally use the RAM+Flash storage mode.Based on achieving LK system basic boot loading function on C6310 Android smart phone,the paper provides a complete set of design for Nand Flash basic functions.The scheme re-layouts the Nand Flash,it realizes the function of Nand Flash upgrade module,and according to the Nand Flash read and write speed,it proposes a kind of bad block management strategy and hardware parallel ECC check design.
Keywords:storage mode  read and write speed  bad block management  ECC check
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