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| 银触点失效的AES分析 | |
| 作者姓名： | 吴则嘉 杨鸿根 王金福 许云虎 |
| 摘 要： | 前言 表面分析方法建立后,对各个学科及一些工业部门产生了很大影响,在电子元器是件上采用表面分析技术后,为产品的工艺、使用条件、产品质量的改进提供了依据,起了促进作用。据报道,电子元器件稳定性数据表明,失效的电子元器件中有39％与表面状况有关,其他28％与氧化、非金属化、导线或焊接缺陷有关,而这 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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