| 电子元器件加速寿命试验方法的比较 |
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| 引用本文： | 刘婧,吕长志,李志国,郭春生,冯士维.电子元器件加速寿命试验方法的比较[J].半导体技术,2006,31(9):680-683. |
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| 作者姓名： | 刘婧 吕长志 李志国 郭春生 冯士维 |
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| 作者单位： | 北京工业大学,电子信息与控制工程学院可靠性实验室,北京,100022;北京工业大学,电子信息与控制工程学院可靠性实验室,北京,100022;北京工业大学,电子信息与控制工程学院可靠性实验室,北京,100022;北京工业大学,电子信息与控制工程学院可靠性实验室,北京,100022;北京工业大学,电子信息与控制工程学院可靠性实验室,北京,100022 |
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| 摘 要： | 加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.
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| 关 键 词： | 加速寿命试验 电子元器件 可靠性 |
| 文章编号： | 1003-353X(2006)09-0680-04 |
| 收稿时间： | 2006-04-21 |
| 修稿时间： | 2006年4月21日 |
Comparison of Accelerated Life Tests of Electronic Component |
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| LIU Jing,LU Chang-zhi,LI Zhi-guo,GUO Chun-sheng,FENG Shi-wei.Comparison of Accelerated Life Tests of Electronic Component[J].Semiconductor Technology,2006,31(9):680-683. |
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| Authors: | LIU Jing LU Chang-zhi LI Zhi-guo GUO Chun-sheng FENG Shi-wei |
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| Affiliation: | College of Electronic Information and Control Engineering, Beijing University of Technology, Beijing 100022, China |
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| Abstract: | Accelerated life test (ALT) as an element of reliability test is generally used in controlling and improving the reliability of electronic product. Currently, there are three kinds of accelerated life test, which are constant-stress ALT, step-stress ALT, progressive-stress ALT. The definition of ALT was presented, the execution and data processing of the three tests are illustrated using one instance each. Finally, their virtue and flaw were compared and their applications were introduced. |
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| Keywords: | accelerated life test electronic component reliability |
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