| 机内测试技术发展趋势分析 |
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| 引用本文： | 徐永成,温熙森,易晓山,刘冠军. 机内测试技术发展趋势分析[J]. 测控技术, 2001, 20(8): 1-4 |
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| 作者姓名： | 徐永成 温熙森 易晓山 刘冠军 |
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| 作者单位： | 国防科技大学机电工程与自动化学院, |
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| 摘 要： | 近20年来，机内测试（BIT，Built-In Test)技术从理论到应用取得了显进展，已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径，并大量应用于大型军用装备、航空航天系统当中，应用范围正进一步扩展到民用大型复杂设备。本从BIT与ATE的日渐融合、机电BIT发展方向、BIT发展为集状态监控、故障诊断、控制决策于一体的综合系统、智能理论与技术在BIT中的应用等4个方面详细分析了BIT理论与技术的发展趋势，对我国相关领域特别是军事工业领域BIT的深入研究与应用具有一定参考价值。
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| 关 键 词： | 机内测试 故障诊断 自动测试设备 智能理论 航空电子系统 |
| 文章编号： | 1000-8829(2001)08-0001-04 |
| 修稿时间： | 2001-02-16 |
The Development Trend Analysis of the Built-in Test Technology |
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