| 一种可配置的老化预测传感器设计 |
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| 引用本文： | 梁华国,汪静,黄正峰,李志杰,徐辉,李扬. 一种可配置的老化预测传感器设计[J]. 电路与系统学报, 2013, 0(1): 205-211 |
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| 作者姓名： | 梁华国 汪静 黄正峰 李志杰 徐辉 李扬 |
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| 作者单位： | 合肥工业大学电子科学与应用物理学院;合肥工业大学计算机与信息学院 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(61274036,61106038);博士点基金资助项目(20110111120012) |
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| 摘 要： | 随着工艺尺寸的缩减,老化导致的电路不稳定现象越来越严重。由于NBTI效应造成的老化是渐进的,因此老化是可预测的。由此提出了一种具有可配置延迟单元的老化预测电路,并将其中的稳定性校验器和锁存器的功能进行了整合。在老化的不同时期,针对老化程度,动态调节延迟单元的延迟大小,得到不同的保护带宽度,从而提高老化预测的准确率。并通过反馈电路达到对稳定性校验器的输出进行锁存的目的。与经典结构相比,电路在面积上平均节省20.6%左右,在功耗方面减少36%左右。Spice模拟器的仿真结果证实了电路的优越性。
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| 关 键 词： | 失效预测 老化 可配置 整合 反馈电路 |
A configurable aging sensor design for circuit failure prediction |
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| LIANG Hua-guo,WANG Jing,HUANG Zheng-feng,LI Zhi-jie,XU Hu,LI Yang. A configurable aging sensor design for circuit failure prediction[J]. Journal of Circuits and Systems, 2013, 0(1): 205-211 |
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| Authors: | LIANG Hua-guo WANG Jing HUANG Zheng-feng LI Zhi-jie XU Hu LI Yang |
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| Affiliation: | 1.School of Electronic Science & Applied Physics,Hefei University of Technology,Hefei 230009,China;2.School of Computer & Information,Hefei University of Technology,Hefei 230009,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | |
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