数字集成电路测试系统结构分析期刊界 All Journals 搜尽天下杂志传播学术成果专业期刊搜索期刊信息化学术搜索

数字集成电路测试系统结构分析

作者姓名：	赵龙鹿梅

作者单位：	[1]上海集成电路设计研究中心测试部200001 [2]信息产业部电子第58研究所八室

摘要：	本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成。
关键词：	数字集成电路测试系统功能测试
本文献已被维普等数据库收录！