| 材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望 |
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| 引用本文： | 李斗星.材料科学中的高分辨电子显微学—发展历史、现状与展望[J].电子显微学报,2000,19(2):87-103. |
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| 作者姓名： | 李斗星 |
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| 作者单位： | 中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室!沈阳市110015 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点项目 !(5 98310 2 0 )，国家自然科学基金面上项目 !(5 98710 5 5 ) |
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| 摘 要： | 本文综述了材料科学中的高分辨电子显微学发展历史、现状与展望。重点讨论了在高分辨电子显微学中能直接观察物质中原子排列的直接成像法 ,能区分原子种类的选择成像法、能量过滤选择成像法和 Z-衬度像 ,能研究物质结构变化动态过程的分辨时间高分辨电子显微学 ,能定量地分析物质结构的定量高分辨电子显微学和遥控电子显微术的发展以及其在材料科学中的应用和展望
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| 关 键 词： | 原子尺度分辨率 电子显微学 新相 缺陷 晶界结构 表征 图像处理 |
Development history,current state and future trends of the high resolution electron microscopy in materials science |
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| LI Dou\|xing.Development history,current state and future trends of the high resolution electron microscopy in materials science[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2000,19(2):87-103. |
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| Authors: | LI Dou\|xing |
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| Abstract: | This
article was summarized the development history,current state and future trends of the high
resolution electron microscopy in materials science.The development of several important
techniques such as direct imaging,selective imaging,energy-filtered selecting
imaging,time-resolved high resolution electron microscopy,quantitative high resolution
electron microscopy,Z-contrast imaging and telemicroscopy as well as them application to
materials science were discussed. |
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| Keywords: | atomic resolution electron microscopy new phase defect structure of grian boundary characterization image processing |
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