首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元
引用本文:马宁,韩磊.模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元[J].电子设计工程,2014(12):121-123.
作者姓名:马宁  韩磊
作者单位:电子科技大学 微电子与固体电子学院,四川 成都610054
摘    要:模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能:一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI(加电压测电流)功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV(加电流测电压)功能。

关 键 词:模拟IC自动测试系统  直流参数测试单元

DC parameter measurement unit for analog IC automatic test system
MA Ning,HAN Lei.DC parameter measurement unit for analog IC automatic test system[J].Electronic Design Engineering,2014(12):121-123.
Authors:MA Ning  HAN Lei
Affiliation:(School of Microelectronics and Solid State Electronics, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054, China)
Abstract:Analog IC automatic test system mainly aims at test theDC and AC parameters for analog IC , Among them, DC parameter test is an important part of the whole test process. DC parameter test unit can provide stable and accurate voltage or current for IC, it mainly achieves two functions:one is to force voltage and measure current, referred to as"FVMI"functions;the other is to force current and measure the voltage, referred to as"FIMV"functions.
Keywords:FVMI  FIMV  analog IC automatic test system  DC parameter measurement unit  FVMI  FIMV
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号