一种新型高低温老化房 |
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引用本文: | 曹捷,张国琦. 一种新型高低温老化房[J]. 电子工艺技术, 2002, 23(6): 253-255 |
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作者姓名: | 曹捷 张国琦 |
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作者单位: | 中国科学院西安光机所,陕西,西安,710068 |
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摘 要: | 介绍了一种适合电子产品进行高低温老化实验的新型装置,列出了该装置的原理及主要技术参数,并对实验测试结果进行了讨论。
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关 键 词: | 高温 低温 老化房 模糊智能 闭环控制 老化实验 电子整机产品 |
文章编号: | 1001-3474(2002)06-0253-03 |
修稿时间: | 2001-07-21 |
A New High-Low Temperature Ageing House |
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Abstract: | |
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Keywords: | Ageing PID Loop control |
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