补偿中子测井刻度方法探讨 |
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引用本文: | 蔡元藩.补偿中子测井刻度方法探讨[J].测井技术,1990(1). |
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作者姓名: | 蔡元藩 |
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作者单位: | 江汉测井研究所 |
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摘 要: | 测井仪器的刻度目的在于使同一类型的各支测井仪具有一致的测井响应效果。本文分析了同一类型的几支补偿中子测井仪的测井响应值之间存在的离散性,论述了目前国内外补偿中子测井工作中采用一点法刻度的应用局限性,即它只对孔隙度接近刻度点的那种地层才有意义。因而作者提出并论证了采用两点刻度法,它能使几支仪器在相当宽的孔隙度范围内得到一致的测井响应效果。
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关 键 词: | 补偿中子测井 刻度方法 |
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